電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
一、gb/t2423 有以下51個標(biāo)準(zhǔn)組成： 1 gb/t 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗a: 低溫

2 gb/t 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗b: 高溫

3 gb/t 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ca:恒定濕熱試驗方法

4 gb/t 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗db: 交變濕熱試驗方法

5 gb/t 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗ea和導(dǎo)則: 沖擊

6 gb/t 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗eb和導(dǎo)則： 碰撞

7 gb/t 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品)

8 gb/t 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗ed: 自由跌落

9 gb/t 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗cb: 設(shè)備用恒定濕熱

10 gb/t 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗fc和導(dǎo)則: 振動(正弦)

11 gb/t 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求

12 gb/t 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗fda: 寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性

13 gb/t 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗fdb: 寬頻帶隨機振動 中再現(xiàn)性

14 gb/t 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗fdc: 寬頻帶隨機振動 低再現(xiàn)性

15 gb/t 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度

16 gb/t 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗j和導(dǎo)則: 長霉

17 gb/t 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ka: 鹽霧試驗方法

18 gb/t 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗--試驗kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)

19 gb/t 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

20 gb/t 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法

21 gb/t 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 m: 低氣壓試驗方法

22 gb/t 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗n: 溫度變化

23 gb/t 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗q:密封

24 gb/t 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗sa: 模擬地面上的太陽輻射

25 gb/t 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/am: 低溫／低氣壓綜合試驗

26 gb/t 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/bm: 高溫／低氣壓綜合試驗

27 gb/t 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/amd:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗方法

28 gb/t 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗t:錫焊試驗方法

29 gb/t 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗u:引出端及整體安裝件強度

30 gb/t 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗xa和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

31 gb/t 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法

32 gb/t 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法

33 gb/t 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗kca:高濃度二氧化硫試驗方法

34 gb/t 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/ad: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗方法

35 gb/t 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法

36 gb/t 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法

37 gb/t 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 l: 砂塵試驗方法